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多点ライムラプスシステムの基本特許を取得いたしました

 多点ライムラプスシステムの基本特許を取得いたしました。

 特許第4063609号
 複数の微細な被観察点である任意座標を繰り返して観察するシステム

 出願日:平成14年8月1日
特許 | - | -